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Acquisition d'un microscope électronique à balayage à haute résolution

Caractérisation structurale et texturale des matériaux et surfaces - Support au développement de nouveaux produits ou procédés

Certech est impliqué depuis de nombreuses années dans le développement et la caractérisation fine de nouveaux matériaux. L’identification de particules micro- ou nanométriques est également une préoccupation importante dans les domaines pharmaceutique, cosmétique ou alimentaire.
Afin de renforcer son potentiel instrumental, Certech a fait l’acquisition d’un nouveau microscope électronique à balayage équipé d’une source à émission de champ (SEM-FEG) et d’un analyseur élémentaire (EDX).
Ce type de microscope est particulièrement adapté à l’imagerie à haute résolution et à faible énergie : observation de microstructures, inclusions, fibres, (nano-) particules, polymères, matériaux composites, multi-couches, etc.
Il est équipé d’une chambre à pression contrôlée, idéale pour l’observation et la microanalyse de matériaux isolants comme les polymères, les minéraux, les céramiques ou les matériaux organiques. L’analyseur intégré permet en outre une identification élémentaire rapide de particules ou contaminants dans ces matériaux.